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Digital Systems Testing and Testable Design
Miron Abramovici
Melvin A. Breuer
Arthur D. Friedman
Ieee

グループ:Book /ランキング:157601
価格:¥ 17,227
発売日:1993-01-15 /通常4~6週間以内に発送

カスタマーレビュー
おすすめ度:
この本が欲しかった  (2008-04-22)
I am a engineer of automatic control.
This book introduces very important concepts for testing.
The content is
1. Introduction
2. Modeling
3. Logic simulation
4. Fault modeling
5. Fault simulation
6. Testing for single stuck faults
7. testing for bridging faults
8. functional testing
12. logic level diagnosis
9. desing for testability
10. compression techniques
11. built in self test
13. self checking design
14. PLA testing
15. system level diagnosis

9.3 Controllability and Observability is important concepts.
If it is observable, it may not controllable.
Testability, controllability and observability should be analized for testing.
This book is good start point of testing.

半導体の検査  (2001-03-24)
この本は、半導体の製品検査について技術的な説明を行うものです。 半導体の構造の理解から検査方法の考え方をわかりやすく説明しています。 半導体メーカーはもとより、半導体を使って製品を開発するメーカーの技術者にも参考になるでしょう。



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